數字芯片測試系統解決方案

覆蓋數字芯片測試全流程,為各環節測試提供創新性方案

  • SoC芯片CP/FT檢測

    SoC芯片CP/FT檢測

    辰卓科技系列化數字測試機方案可用于主流SoC芯片數字測試,方案具備如下優勢:

      ●  并測度高:通道數多,單機可配1024IO,支持256-site并測,典型配置1024/768/512/384通道

      ●  存儲深度大:數字Pattern存儲深度可達128M每行;

      ●  DC能力強:數字測試板集成PPMU、BPMU、BDPS功能,支持獨立的Force,Sense管腳,支持大電流輸出與高精度量測;

      ●  功能完善:提供測試程序、Pattern格式轉換器;提供Cable、Docking、Pogo Tower多種測試接口方案;支持常用外設接口協議,提供燒錄、配置功能。


  • 使用場景:CP測試

      ●  數字通道數、測試頻率、存儲深度行業領先;

      ●  易于擴展,根據測試需求可插板擴容,最大能實現高達256-site并測;

      ●  具備高壓、大電流驅動能力及高精度電壓、電流量測能力;

      ●  支持Cable、Docking、Pogo Tower多種接口,滿足多種芯片測試需求 n自帶主控,能快速適配各種Prober機臺。


    使用場景:CP測試
  • 使用場景:FT測試

    使用場景:FT測試

      ●  輕量化數字測試機,測試頻率、存儲深度行業領先,可為數字芯片FT測試提供高性價比解決方案;

      ●  具備高壓、大電流驅動能力及高精度電壓、電流量測能力;

      ●  支持Cable、Docking多種接口,滿足多種芯片測試需求;

      ●  自帶主控,能快速適配各種Handler機臺。

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